適用于各種封裝形式的電阻器（小功率）進(jìn)行高溫高壓電老煉試驗(yàn)。

電容濕熱試驗(yàn)系統(tǒng)適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進(jìn)行高溫高濕老煉試驗(yàn)。

電容器高溫老化篩選設(shè)備，LH01系列電容器高溫老煉試驗(yàn)臺(tái)適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進(jìn)行高溫高壓電老煉試驗(yàn)。

試驗(yàn)系統(tǒng)對(duì)傳感器進(jìn)行高溫老化，檢測(cè)輸出的模擬量信號(hào)或數(shù)字信號(hào)。

設(shè)備通過(guò)測(cè)試得到保護(hù)結(jié)構(gòu)在ESD脈沖作用下的I-V特性曲線(xiàn)和開(kāi)啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等關(guān)鍵電參數(shù)，從而驗(yàn)證ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。通過(guò)測(cè)試得到電路端口在ESD脈沖下的I-V特性曲線(xiàn)和開(kāi)啟電壓、維持電壓、維持電流、二次擊穿電流等電參數(shù)，從而可分析集成電路的抗ESD特性。通過(guò)對(duì)研究對(duì)象施加TLP應(yīng)力，分析研究對(duì)象在ESD應(yīng)力下的特性變化和失效機(jī)理。